导电薄膜高精度厚度测量
TFG6220 电容系统可超高精度测量导电薄膜（例如电池薄膜）的厚度。真空装置将被测工件吸附并展平，确保支撑平整无褶皱，从而实现最高精度测量。系统适用于质量管控中的离线样品检测。TFG6220 为预装成品，开箱即可直接投入使用。
精确检测，质量可靠
TFG6220 由搭载传感器的测量支架及 capaNCDT 控制器组成。系统通过融合两个电容传感器的信号计算厚度，并可外接真空装置实现被测物体自动平整，从而获得微米级精度的测量结果。
固定安装在测量支架上部的电容传感器 (1) 测量与被测物 (2) 的距离。测量插件 (3) 提供一个基准面，通过真空吸附并夹紧被测物体。下部区域的电容传感器 (4) 在测量插件上进行测量，并补偿接触面的机械偏移。