电极膜厚度测量的可扩展系统
Micro-Epsilon 提供多种厚度测量系统，可满足涂装线的不同要求和应用领域。thicknessCONTROL C 型框架专为干式涂层等非常恶劣的环境而设计。其坚固的框架和集成的温度补偿功能确保了即使在高环境温度下也能达到很高的测量精度。此外，该系统还针对不同的应用设计了多达 8 个测量轨道，适用于各种膜宽。
适用于多达 8 通道的厚度测量
thicknessCONTROL可用于固定轨道测量，例如中心线测量（中心厚度）或边缘厚度测量。此外，该传感器系统还可用于涂层电池薄膜的横向厚度测量。系统可配备多个传感器，最多可同步测量 8 个通道。
强大的分析和控制软件
thicknessCONTROL 系统由包括电机控制在内的集成线性单元、紧凑型总线端子盒、自动校准单元以及预装软件的多点触摸 PC 组成。该软件支持不同的测量模式，例如任意位置的固定轨道厚度测量、厚度轮廓测量、多个纵向趋势测量、SPC 软件包以及测量系统能力的自动验证。
高性能的厚度测量，即使是干涂层过程
thicknessCONTROL BTG8702 2C.4K 由两个坚固的测量框架组成，每个框架包含八个光谱共焦传感器。因此，可以监控总宽度达 1.6 米的 8 条涂膜轨道。由于设计坚固，该系统在干涂层工艺中的长期测量精度非常高。在进行全自动校准时，两个测量框架会回到其停放站。
