thicknessGAUGE C.LP
thicknessGAUGE C.LP传感器系统使用激光轮廓扫描仪进行厚度测量。这些扫描仪将激光线投射到被测物表面。激光线补偿带材倾斜，并实现轮廓平均。激光线测量技术可以测量结构材料的厚度，如压花表面和穿孔板。
thicknessGAUGE C.LP传感器系统用于带材和板材的精确厚度测量。它还可用于固定轨道测量，例如中心线测量（中心厚度）或边缘厚度测量。通过一个线性单元，可对宽度达 600 mm的带材进行横向厚度测量。
thicknessGAUGE C.LP传感器系统使用激光轮廓扫描仪进行厚度测量。这些扫描仪将激光线投射到被测物表面。激光线补偿带材倾斜，并实现轮廓平均。激光线测量技术可以测量结构材料的厚度，如压花表面和穿孔板。
thicknessGAUGE C.LP传感器系统用于带材和板材的精确厚度测量。它还可用于固定轨道测量，例如中心线测量（中心厚度）或边缘厚度测量。通过一个线性单元，可对宽度达 600 mm的带材进行横向厚度测量。