用于 2D 表面检测与 3D 几何测量的传感器
reflectCONTROL 系列 RCS110-245 2D 与 RCS130-160 3D HLP 传感器，能够对高反射表面实现精密检测与测量。RCS110-245 2D 用于可靠识别与分析表面偏差，可提供高分辨率的基础强度、幅值和曲率图像。RCS130-160 3D HLP 还可额外提供高分辨率 3D 点云，从而精准测定形貌以及平面度、形变量和曲率等几何特征。
两款传感器均适用于自动化检测任务，可便捷集成至各类设备、系统以及现有图像处理系统中。因此，它们为高反光工件的工业质量管控提供了高性能的解决方案。
RCS130-160 3D HLP — 光亮表面 3D 测量
reflectCONTROL RCS130-160 3D HLP 专为光亮工件的形貌采集而设计。传感器投射条纹图案，被测物体表面将该图案反射至传感器相机。传感器输出表面 3D 图像，由此可获取工件的表面形貌参数（例如平面度、形变量、曲率）。RCS130 型号专为生产线等场景下的测量与检测任务做了专项优化。此外，传感器配备 GigE Vision 接口，可输出符合 GenICam 标准的数据。
RCS110-245 2D — 光亮工件高速表面检测
reflectCONTROL RCS110-245 2D 配备集成控制器，适用于固定式测量或设备集成场景。这款紧凑型传感器可识别光亮表面的异常缺陷，并由软件将其处理并显示为反射率和曲率图像。借助 GigE Vision 接口，可将表面图像传输至多种图像处理软件包，以进行进一步分析。
当然，reflectCONTROL RCS130-160 3D HLP 同样完整具备 RCS110-245 2D 的全部功能。这两款传感器都为表面检测提供了高性能的解决方案，并可无缝对接到现有系统中。
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