用于轮廓、厚度及位置双轴测量的测量系统
profileGAUGE 是一款高精度传感器系统，专用于超细线材及圆形棒材的轮廓、厚度及位置双轴测量。该系统专为工业过程中的在线测量任务而开发，以其高精度、简易集成和卓越工艺过程可靠性而著称。两个光学 optoCONTROL ODC2700 光幕千分尺采用 X 型布局，可同步对被测物进行双轴测量。因此，即使在高速工艺过程下，仍能可靠地获取精确的直径、轮廓及位置数据。
用户可通过控制系统或更高级别的评估系统，对来自双轴的统计值进行独立计算与后续处理，使 profileGAUGE 能理想地集成至现有质量及控制体系中。通过工业以太网接口即可实现便捷的连接，并支持 TCP、UDP 和 FTP 等标准协议。这确保了其易于集成到现有总线系统，并与控制系统进行可靠的通信。
精确直径测量，最小可测 30 µm
profileGAUGE 测量系统可检测低至 30 µm 的直径，使其成为超细导线及微小圆形截面精密测量的理想选择，尤其适用于敏感材料和高速加工工况。
其主动倾斜校正功能是一项决定性优势。智能评估系统可识别被测物体的倾斜角度，内部控制器自动将测量值修正至目标物体的实际倾斜角度 —— 即其实际对齐状态。这有效防止了因倾斜导致的测量值偏差，尤其是在动态生产过程中。倾斜校正功能可在高达 5 kHz 的满量程测量频率下工作，并适用于外径、线材和轮廓测量等多种测量程序。
智能污染检测，保障最高操作安全性
profileGAUGE 系统配备集成式实时数据分析功能，可在早期阶段检测光学元件的污染情况并进行补偿。这有助于防止测量结果失真，并避免光幕千分尺的停机或故障，从而确保持续的生产安全及可靠的测量值。
系统可按需（例如在计划维护间隔期间）报告污染程度。相关数据通过集成接口便捷提供，支持预测性维护。智能评估系统可检测玻璃表面及光路中的微小污染，即使是肉眼不可见的最细微灰尘颗粒或油雾也能被可靠识别。
系统可输出三种污染等级：
- 清洁：整个测量范围内未检测到污染
- 受限：检测到的污染位于忽略区域内
- 污染：相关区域内检测到污染
扩展保护方案
profileGAUGE 可选配附加保护配件，以满足严苛工业环境的应用需求。即使在恶劣条件下，也能长期保持测量精度。防护玻璃能有效防止千分尺光学元件在恶劣环境中受损。空气吹扫环则用于保持 LED 光路清洁，通过吹散灰尘、颗粒及其他污染物，防止其沉积附着在光学元件上并影响测量结果。
适用于机器和系统集成的现代化接口
