高反射表面的高精度检测与测量
reflectCONTROL 传感器能够高精度地采集和检测高反射及半透明表面。根据传感器型号的不同,它们可实现用于缺陷检测的高分辨率 2D 检测,或用于精确形貌与几何检测的全表面 3D 测量。基于相位测量偏折法,能够可靠识别极其微小的缺陷与形状偏差。
应用范围从工业表面检测扩展到直径最大 300 mm 的晶圆的自动化测量。因此,高要求的检测任务可以高效、可重复且非接触地集成到生产过程中。
用于高要求工业测量与检测任务的精密 2D 与 3D 表面检测。
型号

新品:reflectCONTROL RCS3500-300 3D-Wafer-Warpage
该传感器用于 300mm 量程下晶圆 3D 翘曲度与平面度测量
单次拍摄即可完成整片晶圆采集,不存在拼接误差,针对高反射晶圆表面优化。可实现快速、高精度 3D 翘曲与平面度检测,保障后续工艺可靠防碰撞,适用于近线与在线检测工序。








