热成型薄膜的非接触厚度测量（厚度0.1毫米至6毫米）
FTS 系列提供极其稳定和精确的厚度测量。将其应用于热成型平膜生产线，可获得高精度的可靠测量结果，从而为控制生产过程和最终实现质量奠定基础。
优点：
- 降低原材料消耗的同时提高质量
- 可调节横移速度
- 由于采用无同位素和 X 射线测量原理，因此无需相应的辐射防护费用
- 无辐射测量技术
- 易于在生产线上使用
- 自定义接口
材料参数：
- 薄膜厚度0.1毫米至6毫米
- 薄膜宽度可达3000毫米
- 进料速度可达 14 米/分钟
FTS 系列采用 C 型框架和 O 型框架系统设计，配备了极其精确的电容和光学测量技术。通过不同的补偿传感器消除了测量中的寄生距离效应。这一过程确保了测量和控制的最高精度。
