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thicknessGAUGE

精密厚度测量传感器系统

thicknessGAUGE C.C

thicknessGAUGE C.C传感器系统使用光谱共焦位移传感器进行厚度测量。该传感器可实现出色的测量精度和高测量速率。此外,这种创新的测量技术还能测量反光和闪亮表面。

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特点

  1. 使用的传感器技术:光谱共焦位移传感器
  2. 测量范围(厚度):2.5 mm
  3. 精度:±0.4 µm
  4. 测量速率:高达10 kHz
  5. 高分辨率测量高反光和闪亮表面的理想之选
  6. 适用于透明和半透明薄膜
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thicknessGAUGE C.C传感器系统用于带材和板材的精确厚度测量。它还可用于固定轨道测量,例如中心线测量(中心厚度)或边缘厚度测量。通过一个线性单元,可对宽度达 600 mm的带材进行横向厚度测量。

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