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金属带厚度测量

在测量金属带厚度时,基于激光三角测量的光学方法与其他方法相比具有许多优点。测量时无需接触,因此没有磨损。此外,无论材料状况如何,都可以根据带材表面进行精确的几何测量。Micro-Epsilon提供强大的测量系统,如C型框架和O型框架,可独立于合金运行。