高精度导电薄膜厚度测量
TFG6220 电容系统能够以最高精度测量导电薄膜（如电池薄膜）的厚度。真空装置将待测物吸附平整，确保其无褶皱地处于最佳定位状态，从而实现最高精度的测量。该系统适用于离线随机抽样的质量检查。TFG6220 系统采用预装配设计，开箱即用，可快速投入运行。
精确检测，质量可靠
TFG6220 由含传感器的测量支架和 capaNCDT 控制器组成。通过评估两个电容传感器的读数来计算厚度。外部真空装置可自动平整被测物体，从而实现微米级精度的测量结果。
固定安装在测量支架上部的电容传感器 (1) 测量与被测物 (2) 的距离。测量插件 (3) 提供一个基准面，通过真空吸附并夹紧被测物体。下部区域的电容传感器 (4) 在测量插件上进行测量，并补偿接触面的机械偏移。