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reflectCONTROL-用于光泽表面

用于检查光泽表面的3D传感器

reflectCONTROL 传感器为高反射和透明表面的缺陷检测提供了创新解决方案。这些传感器采用相位测量偏折技术,能够实现全表面测量。传统的目视检测需要耗费大量的人力和工作时间,而reflectCONTROL传感器可提供精确的测量结果,从而可以对表面质量进行详细分析。功能强大的软件包可用于评估和参数设置,大大提高了表面检测的效率和准确性。

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特性

  1. 改进后的相机布局,以获取更清晰的2D图像
  2. 即使是10 nm的微小偏差也能被精准检测
  3. 输出3D点云,用于高精度高度测量
  4. 传感器直接输出3D数据,数据点高达 500 万个
  5. Z轴方向纳米级分辨率
  6. XY分辨率100 µm
  7. 功能强大的 3DInspect 软件
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Jiang Zhu
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用于光泽表面3D测量的偏折原理的传感器:RCS 130-160 3D HLP

特点:

  • 测量范围 170 x 160 mm
  • 用于测量高反射率的平面
  • 输出基于2D的强度、振幅和曲率图像
  • 输出 3D 点云,用于高精度高度测量

RCS130-160 3D HLP用于光泽物体的形状测量。该传感器显示一个条纹图案,该图案由被测物体的表面反射到传感器摄像头中。传感器提供表面的3D图像,从而确定组件的拓扑结构(例如平面度,挠度,曲率)。RCS130型号特别针对生产线等测量和检测任务进行了优化。此外,该传感器具有GigE Vision接口,可提供符合 GenICam 标准的数据。


光泽部件的表面检查:RCS 110-245 2D

特点:

  • 测量范围 110 x 245 mm
  • 用于测量高反射率的平面
  • 输出2D基础强度、振幅和曲率图像

带集成控制器的reflectCONTROL RCS110-245 2D设计用于固定测量或集成到机器中。这款紧凑型传感器可检测光泽表面的异常情况,并通过软件处理和显示为反射率和曲率图像。GigE Vision可以将表面图像传输到多种图像处理软件包,以便进一步分析。

reflectCONTROL RCS130-160 3D HLP还具备RCS110-245 2D的所有功能。因此,这两款传感器都能为表面检测提供强大的解决方案,并且可实现与现有系统的无缝集成。

Valid3D – 可靠的 3D data

通过Micro-Epsilon 3D-SDK进行软件集成

ReflectCONTROL配备了易于集成的SDK(软件开发套件)。SDK基于GigE Vision和GenICam行业标准,包括以下功能模块:

  • 网络配置和传感器连接
  • 全面的传感器控制
  • 图像传输控制
  • 用户定义的参数集管理
  • C++示例程序和文档

如果您有GenICam客户端,则无需SDK也可以通过GigE Vision访问传感器。

接口和信号处理单元

应用

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