用于检查光泽表面的3D传感器
reflectCONTROL 传感器为高反射和透明表面的缺陷检测提供了创新解决方案。这些传感器采用相位测量偏折技术,能够实现全表面测量。传统的目视检测需要耗费大量的人力和工作时间,而reflectCONTROL传感器可提供精确的测量结果,从而可以对表面质量进行详细分析。功能强大的软件包可用于评估和参数设置,大大提高了表面检测的效率和准确性。
用于光泽表面3D测量的偏折原理的传感器:RCS 130-160 3D HLP
光泽部件的表面检查:RCS 110-245 2D
通过Micro-Epsilon 3D-SDK进行软件集成
ReflectCONTROL配备了易于集成的SDK(软件开发套件)。SDK基于GigE Vision和GenICam行业标准,包括以下功能模块:
- 网络配置和传感器连接
- 全面的传感器控制
- 图像传输控制
- 用户定义的参数集管理
- C++示例程序和文档
如果您有GenICam客户端,则无需SDK也可以通过GigE Vision访问传感器。