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capaNCDT

电池薄膜的厚度测量

导电薄膜的高精度厚度测量

TFG6220电容系统能够以最高精度测量导电薄膜(如电池薄膜)的厚度。真空装置吸附待测物体,使其平滑,从而确保最佳的无褶皱支撑。这样就能以尽可能高的精度进行测量。该系统用于离线随机抽样的质量检查。TFG6220 已预先组装好,可以快速投入使用。

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特点

  1. 薄膜厚度的快速离线检测
  2. 分辨率: 10 nm
  3. 高重复性: 1 µm
  4. 可能的薄膜厚度:< 1 mm
  5. 通过真空自动平滑薄膜实现高精度结果
  6. 集成的测量插件可在厚度测量前进行简单的参考
  7. 用于直观设置和显示测量值的网络界面(无需安装软件)
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Jiang Zhu
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精确检测,质量可靠

TFG6220由包括传感器在内的测量支架和一个capaNCDT控制器组成。通过偏置两个电容传感器来计算厚度。通过外部连接的真空装置实现测量物体的自动平滑处理。这样可以达到微米级精确的结果。

固定安装在测量支架上部的电容传感器 (1) 测量与被测物 (2) 的距离。测量插件 (3) 提供一个基准面,通过真空吸附并夹紧被测物体。下部区域的电容传感器 (4) 在测量插件上进行测量,并补偿接触面的机械偏移。