Micro-Epsilon的光学千分尺用于监控焊丝的厚度。在这方面,X型框架测量系统能够实现连续的直径检测。X型框架配备两个激光千分尺,以高分辨率和测量速度检焊丝直径。它可以测量不同的焊丝粗细,并通过数字接口将数据直接传输到上级控制系统。