当需要对光泽和闪亮的部件进行高精度 3D 测量时，reflectCONTROL 传感器是理想的选择。特别是对于平面表面的测量，这项技术凭借其纳米级精度的高测量速率给人留下深刻印象。

reflectCONTROL 传感器能以高达五百万个数据点的密度捕捉技术镜面的表面信息，从而实现对测量对象的精确重建。这使得能够识别出众多的表面变形。无论是划痕、凹痕、缺口等凹陷，还是凸点、颗粒、条纹等凸起，都可以被可视化。所有影响表面反射率的变化都会在振幅图像中显示出来。典型的例子包括指纹或其他污渍痕迹。

该 3D 传感器采用相位测量偏折原理，其特点是在纳米级范围内具有极高的 z 轴分辨率。结合其约 170 mm x 160 mm 的大测量范围，能够在几秒钟内记录多达五百万个测量表面的数据点。