精益求精 - 面向光学行业的传感器解决方案

当需要对光泽和闪亮的部件进行高精度 3D 测量时，reflectCONTROL 传感器是理想的选择。特别是对于平面表面的测量，这项技术凭借其纳米级精度的高测量速率给人留下深刻印象。 reflectCONTROL 传感器能以高达五百万个数据点的密度捕捉技术镜面的表面信息，从而实现对测量对象的精确重建。这使得能够识别出众多的表面变形。无论是划痕、凹痕、缺口等凹陷，还是凸点、颗粒、条纹等凸起，都可以被可视化。所有影响表面反射率的变化都会在振幅图像中显示出来。典型的例子包括指纹或其他污渍痕迹。…

光谱共焦传感器测量自动对焦镜头之间的距离，为相机提供尽可能高的图像质量。

为了满足生产公差要求，使用光谱共焦传感器测量眼镜片或物镜等光学镜片的中心厚度。测量从一侧进行，也可测量非常薄的镜片。

除对激光束参数进行单次测量外，夏克 - 哈特曼波前传感器还能实现激光光学系统或光纤系统更快、更准确的调节。其优势在于对振动不敏感、适用于不同的波长范围，具备高采样率和宽动态范围。这些特性使得该传感器能够轻松集成到机器中，用于在线监测任务，夏克 - 哈特曼灵活的 SHSWorks 软件也为这一集成过程提供了便利。

光学系统广泛应用于各行各业，包括从微米级的微型光学器件到直径达数米的望远镜镜片等各种产品。Optocraft 提供基于 Shack-Hartmann 波前技术的多功能系统，用于光学测试。这些测量系统通过精确的波前测量提供光学质量信息，有助于优化开发和制造流程。

反射镜等光学元件的表面均匀度要求很高。reflectCONTROL 传感器用于检测反射表面。它们检测镜面上的表面偏差并对其进行分类。

对透射波前的精确测量能够为光学系统的成像质量提供定性评估，同时还能实现对系统的在线调整。该技术可应用于观景望远镜、双筒望远镜，以及屋脊棱镜和单个透镜元件的测量精度均可达到 λ/20 PVr。SHSInspect RL 模块可灵活集成到测试台上，专门用于测量 Strehl ratio、 MTF 和透射波前。

在显微镜、机器视觉或 LIDAR 等应用中，对所使用的光学滤光片和窗口片的质量要求往往很高。Optocraft 公司提供一站式解决方案，用于测量可见光和近红外光谱范围内不同波长下的透射波前误差、PSF 和 MTF。此外，通过集成高分辨率视觉相机，还可实现缺陷的可视化检测。

移动设备镜头组件和显微镜物镜的设计旨在：不仅在视场中心生成清晰的图像，并且在视场边缘的离轴场点也能实现高成像质量。通过测量光学轴上和视场内的波前像差，可以实现对镜头组件成像质量的测量。此外，自动化测量程序还能提供有关焦距、色差、偏振效应、PSF 和 MTF 的信息。