使用两套同步测厚系统测量涂层厚度

两套同步thicknessGAUGE系统用于精确测量涂层过程中的厚度。一套系统记录涂覆前的带材厚度，另一套系统监控涂覆后的厚度。涂层厚度由两个测量值之间的差值确定，并传输到系统控制器。该系统配备了光谱共焦传感器，测量精度高，不受表面反射影响。