Micro-Epsilon的光学千分尺用于监控金属棒的厚度。使用X型框架测量系统可以连续测量直径。两台激光千分尺以高分辨率和高测量速率测量直径。X型框架能够测量不同的厚度,数字接口将数据传输到更高级别的控制系统。