高测量速度的轻型控制器
confocalDT 2465和2466光谱共焦控制器用于快速、高精度的距离和厚度测量,并实现纳米范围内的分辨率。这些多峰型号可同时测量多达5个透明层的厚度。该控制器的特点是高发光强度与高达30 kHz的高测量速率相结合。因此,即使在黑暗或粗糙的表面上也能获得高信号强度。快速曝光控制可对变化的表面进行完美补偿。
控制器有单通道型号(IFC2465)和双通道型号(IFC2466)可供选择。由于它们与每个IFS传感器兼容,控制器可靠地解决了许多测量任务。
confocalDT 2465和2466光谱共焦控制器用于快速、高精度的距离和厚度测量,并实现纳米范围内的分辨率。这些多峰型号可同时测量多达5个透明层的厚度。该控制器的特点是高发光强度与高达30 kHz的高测量速率相结合。因此,即使在黑暗或粗糙的表面上也能获得高信号强度。快速曝光控制可对变化的表面进行完美补偿。
控制器有单通道型号(IFC2465)和双通道型号(IFC2466)可供选择。由于它们与每个IFS传感器兼容,控制器可靠地解决了许多测量任务。