对于钻芯和矿物样品的地质分析，考克斯分析系统公司提供特殊的X射线分析设备（XRF扫描仪）。这些设备可在一次测量中对元素周期表中的几乎所有元素进行样品分析。还集成了Micro-Epsilon scanCONTROL 2600激光轮廓扫描仪，以便系统尽可能快速准确地工作。
此外，这些高精度激光扫描仪不仅提供与样品表面距离的信息，还提供表面轮廓（圆形或平面）和不均匀度的信息。该信息也在分析仪中处理，尤其适用于在未进行样品制备的情况下对样品进行扫描。
