凭借光谱共焦DT 2465（单通道版本）和光谱共焦DT 2466（双通道版本），Micro-Epsilon开发了新一代光谱共焦控制器。它用于高精度的距离测量，以及透明物体的同步双面和多层厚度测量。多峰变体可同时检测多达五个透明层。材料数据库可用于厚度测量，其中可以存储折射率等目标规格。
新型号的特点是光强度高、速度快。这使得高达30 kHz的完整测量速率可以在许多表面上充分利用。即使在黑暗和粗糙的表面上，控制器也能高速提供极其稳定的测量信号。
控制器与所有光谱共焦DT传感器兼容。可通过网络界面轻松配置。测量数据输出通过以太网、以太网、RS422 和模拟进行。也可以通过PROFINET和EtherNet/IP输出。但是，为此需要一个可选的接口模块。
