德国米铱传感器

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用于电池行业的新型光学传感器

在电池生产等高科技领域,需要绝对的精度。新型optoNCDT 1900-6和1900-6LL激光传感器专为测量涂层电池膜的厚度而设计。测量范围为 6 mm 的传感器可为薄膜厚度测量提供高度准确的结果。激光线 (LL) 版本针对粗糙和反光表面进行了优化。传感器产生一个小的椭圆形光斑,而不是一个点。光斑补偿不均匀的表面,从而产生稳定的信号和高精度。在电池行业的应用这些精密传感器主要用于涂层电池膜的厚度测量。均匀的涂层浆料称为浆料。这种金属氧化物由镍、钴、锰和锂组成,并与水和溶剂混合。涂在铝膜两面的糊

高速光密集型距离和厚度测量

凭借光谱共焦DT 2465(单通道版本)和光谱共焦DT 2466(双通道版本),Micro-Epsilon开发了新一代光谱共焦控制器。它用于高精度的距离测量,以及透明物体的同步双面和多层厚度测量。多峰变体可同时检测多达五个透明层。材料数据库可用于厚度测量,其中可以存储折射率等目标规格。新型号的特点是光强度高、速度快。这使得高达30 kHz的完整测量速率可以在许多表面上充分利用。即使在黑暗和粗糙的表面上,控制器也能高速提供极其稳定的测量信号。控制器与所有光谱共焦DT传感器兼容。可通过网络界面轻松配

极小的电容传感器提供高精度

新的capaNCDT CSE01和CSE025传感器扩展了Micro-Epsilon的电容式传感器产品组合。CSE01直径为3 mm,长度仅为15.6 mm,尺寸极小。传感器配有集成电缆,甚至可以集成在狭窄的安装空间中。Micro-Epsilon的电容式传感器的特点是传感器尺寸小,同时在距离、位置和厚度测量方面提供高精度。Micro-Epsilon提供广泛的产品组合,包括30多种标准电容传感器,测量范围为0.05至10 mm。由于采用了创新的三同轴技术,无需额外校准即可更换传感器。坚固耐用的电容

多峰白光干涉仪可实现高精度多层测量

德国米铱公司的白光干涉仪的特点是其出色的精度和绝对测量值。 工业级设备适用于机器集成以及实验室应用的在线使用。 白光干涉仪测量距离和厚度,以皮米分辨率实现纳米精度。借助新的多峰版本,现在还可以在一个测量过程中对多个透明层进行高精度检测。 两种控制器型号可用于多峰距离测量 (IMS5x00-DS/MP) 或多层厚度测量 (IMS5400-TH/MP)。两者的区别在于,使用距离系统,层厚是根据各自的距离值计算出来的,而厚度是直接用系统测量的。根据应用的不同,这会给您带来不同的好处:多峰距离测量系统特

新产品:基于电涡流原理的电感位移传感器的配置器

电涡流位移传感器的特点是其高性能、极大易用性和出色的性价比。这些电感位移测量系统提供了应用的多功能性,因为它们可以与米铱公司传感器结合并使用。为了让您尽可能轻松地正确组装电涡流系统,我们为您设置了一个新的配置器。您可以根据测量范围、环境条件和所需接口进行选择,并根据建议接收带有匹配传感器的合适控制器。由于其坚固的设计和高测量精度,电涡流位移传感器可在润滑间隙监测、热膨胀、轴运动以及机器部件和驱动部件的同心度等领域并提供准确的测量结果。传感器无需接触即可检测铁磁和非铁磁材料上的位移、距离和位置。它

3D 测量性能提升高达 5 倍

新固件版本 V53 可用于 scanCONTROL 30xx 激光轮廓扫描仪。 这样就可以实现创新的灵敏度功能,该功能可将曝光时间显着减少多达 80%。 因此,激光扫描仪的运行速度最高可提高 5 倍。,并且继续在这个过程中提供高精度。有 5 个灵敏度级别,可以根据各自的应用进行单独调整。 该参数可在 scanCONTROL 配置工具 6.7 版和 3D-View 3.7 中直接选择。 在 3DInspect 中,它可作为 GenICam 参数直接使用。 最大轮廓速率保持在 10 kHz

下一代激光位移传感器

optoNCDT 1900 位移、距离和位置传感器速度快、性能高,专为狭小的安装空间而设计。为了直接集成到工业以太网控制器中,Micro-Epsilon 德国米铱推出了带有集成 EtherCAT 接口的 optoNCDT 1900 系列。测量值的处理和输出通过集成的高性能控制器精确、快速地进行。两级测量平均可用于优化边沿和阶跃处的信号。凭借集成的工业以太网接口 (EtherCAT),该传感器具有优势,尤其适用于高速过程以及多个设备和机器的联网。通过 EtherCAT 集成到总线系统中可以根据标准